GreaTec Fischer & Co. GmbH公司生产的超高真空低温扫描探针系统是一种高性能的分析仪器，能够在超高真空（UHV）和低温环境下进行高分辨率的表面成像和分析。系统能够在超高真空（10⁻¹¹ Torr）和低温（4.8K-300K）条件下运行，采用液氮或液氦制冷；扫描隧道显微镜（scanning tunneling microscope，STM）成像空间分辨率可达横向≤0.1 nm，纵向≤0.01 nm，能够在液氮和液氦冷却下获得原子级分辨率的STM和原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）图像。该系统广泛应用于材料科学、表面物理、纳米技术等领域，为研究人员提供了在极端条件下探索微观世界的强大工具。

LT-STM-AFM&XPS

1. 分辨率：STM图像分辨率：横向分辨率达到0.1nm，纵向分辨率可达0.01nm XPS能量分辨率：Ag 3d5/2峰能量分辨率优于0.5eV
2. 扫描范围：1.2 μm x 1.2 μm x 0.4 μm @ 5 K
3. 最小隧道电流：<500fA
4. 基温（5K）下的稳定性：XY: <0.2 nm/h ，Z: <0.1 nm/h
5. AFM 振荡幅度：50pm
6. 温度变化范围：5-300K
7. 样品传输要求：温度>15K
8. 液氮（液氦）保持时间：最多100h

X射线光电子能谱（x-ray photoelectron spectroscopy ，XPS）：分析样品表面的元素组成和化学状态，通过测量从样品表面发射的光电子的能量和数量，确定元素的种类和价态。

1.高分辨率表面成像：系统能够在超高真空（UHV）和低温（4.8K-300K）环境下实现原子级分辨率的STM和AFM成像，能够清晰地观察到材料表面的原子排列和缺陷。
2. 表面电子态分析:扫描隧道谱（scanning tunneling spectroscopy，STS），通过测量隧道电流随偏压的变化，获取样品表面的电子态密度信息，可用于研究材料的电子结构和能带结构。
另外，利用高真空低温扫描探针系统还可以在5-300K温度范围内精确地进行分子原子操纵，如实现对单个原子的提取、移动和放置等操作。

1.材料科学
• 原子级结构解析：通过STM和AFM技术，能够在原子级分辨率下观察材料表面的原子排列、晶格结构和缺陷。
• 材料生长研究：结合原位蒸发装置，研究材料的生长过程，观察原子级沉积和表面重构现象。
2.表面物理
• 表面重构与吸附现象：研究材料表面在不同条件下的重构现象，以及吸附分子或原子的行为。
• 表面电子态分析：通过STM和STS技术，研究材料表面的电子态密度和能带结构。

负责教师：宋海利
联系电话：13301955057
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放置地点：东校园化学与材料综合楼负一层A 007