安徽吸收谱RapidXAFS是国内自主研发的先进X射线吸收精细结构谱（XAFS）测试系统，该系统采用高亮度X射线光源与快速扫描技术，可覆盖5-15 keV能量范围（对应第四周期K/第六周期L边吸收），实现快速数据采集，适用于原位动态过程研究（如催化反应、电池充放电）。配备多模式探测器（电离室、SDD阵列）及变温/气氛控制模块，支持透射、荧光检测模式。结合专业分析软件，可精确解析材料的局域原子结构、电子态和配位环境，广泛应用于能源材料、环境科学和催化化学等领域的高效表征。

安徽吸收谱仪RapidXAFS

(1) 能量范围：5-15 keV；
(2) 数据采集速度：毫秒级快速扫描，支持原位动态研究；
(3) 检测模式：透射、荧光（SDD阵列）、电子产额；
(4) 光源亮度：高通量X射线，信噪比优；
(5) 环境控制：变温、多气氛（真空/惰性/​反应气体）；
(6) 分辨率：ΔE/E≤2×10-4（近边区），适用于精细结构解析（XANES/EXAFS）；
(7) 专为催化、电池、材料科学等领域的快速原位表征设计。

（1）变温附件
（2）电化学附件
（3）电催化附件

1. 电子结构与化学价态分析（XANES）
元素价态测定：通过吸收边位置（如Fe²⁺ vs. Fe³⁺、Cu⁺ vs. Cu²⁺）确定氧化态。
电子结构研究：分析未占据电子态（如过渡金属的3d轨道、稀土元素的4f轨道）。
催化剂活性中心表征：如Pt、Pd等贵金属在催化反应中的电子状态变化。
2. 局域配位环境分析（EXAFS）
配位数与键长测定：通过拟合EXAFS振荡，获得近邻原子的种类、距离和数量（如Fe-O、Cu-N等配位结构）。
非晶/纳米材料结构解析：适用于无长程有序的材料（如玻璃、溶液、团簇）。
掺杂与缺陷研究：分析材料中掺杂元素的局域环境（如ZnO中Co掺杂的配位情况）。
3. XES主要用于对待测元素电子结构研究
通过测试测量价带→核心空穴的辐射跃迁（如 Kβ, Kα, L线），可以研究材料的价带和核心能级，进行元素自旋态和化学键分析。

应用于疾病信号通路、蛋白翻译后修饰、疾病发生机制、寻找特异性生物标志物、干细胞及细胞治疗等研究领域，覆盖肿瘤学、神经学科、免疫学、微生物学等学科领域。

负责教师：朱敏
联系电话：020-39339862
邮箱地址：zhum55@mail.sysu.edu.cn
放置地点：东校园化学与材料综合楼A103